Микрофокусная рентгеновская КТ-система SHIMADZU XSeeker 8000
Страна изготовления: Япония
Описание:
Настольная рентгеновская компьютерная томография (КТ) XSeeker 8000 оснащена мощным рентгеновским генератором и плоскопанельным детектором высокого разрешения. Несмотря на свои компактные размеры, он имеет высокую мощность рентгеновского излучения 160 кВ, что позволяет четко наблюдать формованные пластиковые детали, а также детали из литого под давлением алюминия и другие металлические детали.
Кроме того, недавно разработанное управляющее программное обеспечение XSeeker обеспечивает высокую работоспособность и самую высокую на сегодняшний день пропускную способность.
Благодаря четкому качеству изображения и высокой производительности он поддерживает приложения в широком диапазоне ситуаций: от подробных наблюдений при разработке продукта и оценки качества до проверок на участках механической обработки.
Характеристики:
Выход рентгеновского генератора: 160 кВ 1,2 мА
Рентгеновский детектор: плоский детектор
Макс. входное разрешение: Прибл. 5,6 миллиона пикселей
Макс. размер образца/вес: SRD*1 = 475 мм φ300 мм×В 320 мм, 10 кг (включая приспособление для установки образца)
Макс. размер образца/вес: SRD = 550 мм φ150 мм×В 320 мм, 10 кг (включая приспособление для установки проб)
Макс. КТ-область SRD = 475 мм φ85 мм×В 70 мм
Макс. КТ-область SRD = 550 мм φ100 мм×В 80 мм
Пространственное разрешение 100 мкм (SRD = 550 мм)
Время сбора данных КТ: 12 секунд или 5 минут
Номинальная мощность:
- Основной блок: однофазное напряжение от 100 до 240 В переменного тока ± 10 %, 50/60 Гц, 1,0 кВА
- Управляющий компьютер: однофазное напряжение от 100 до 240 В переменного тока ± 10 %, 50/60 Гц, 1,0 кВА
Заземление: заземление типа D (сопротивление заземления макс. 100)
Масса: 290 кг
Условия рабочей среды: температура окружающей среды: от 10 до 30 °C; Влажность окружающей среды: от 45 до 80 % макс. (Без конденсата)
Доза внешней утечки: 1 Зв/ч или меньше.
*1 SRD: Расстояние между источником и центром вращения (SRD) — это расстояние от источника рентгеновского излучения до центра вращения образца.
