Сканирующий зондовый микроскоп/атомно-силовой микроскоп SPM-Nanoa
Страна изготовления: Япония
Описание:
Микроскопы SPM-Nanoa включают в стандартную комплектацию усовершенствованную высокочувствительную систему обнаружения и функцию автоматического просмотра. Это означает, что вы можете наблюдать то, что хотите, более подробно, проще и быстрее. Следовательно, микроскопы SPM-Nanoa оказывают мощную помощь во всем - от наблюдения формы микрообластей до измерения их физических свойств.
Характеристики:
Сканер:
Макс. размер сканирования (X,Y,Z)
10 мкм x 10 мкм x 1 мкм (стандартно)
30 мкм x 30 мкм x 5 мкм (дополнительно)
125 мкм x 125 мкм x 7 мкм (дополнительно)
55 мкм x 55 мкм x 13 мкм (дополнительно)
2,5 мкм x 2,5 мкм x 0,3 мкм (дополнительно)
Образец этапа:
Макс. размер образца: ø50 мм x 8 мм
Для образцов диаметром 50 мм можно наблюдать только центральную часть
Макс. ход: ±5 мм
Если образец диаметром 40 мм или меньше помещается в центр сканера.
Наблюдение с помощью оптического микроскопа
Общий коэффициент увеличения: от 220 до 1300 раз (при максимальном отображении на 21,5-дюймовом мониторе)
